X線セファロメトリック測定とは
通常値
検査中に異常な影とパターンは見つかりませんでした。
臨床的意義
異常な結果: 1. 頭蓋顔面の成長と発達に関する研究: X線セファロメトリック測定は、頭蓋顔面の成長と発達を研究する重要な方法です。また、異なる期間における個体の測定と分析、および頭蓋顔面の成長と発達の縦方向の研究にも使用できます。
2.歯列および頭蓋顔面変形の診断と分析:X線の頭蓋測定を通じて頭蓋顔面変形を有する個体を測定および分析することにより、骨格変形または咬合変形のメカニズム、主な性質および位置を理解することができる。変形は正しい診断をすることができます。
3. マロクジョンの矯正設計を決定する:X線の頭蓋分析と研究から、正常な関節関係は様々な頭蓋顔面骨格構造関係に存在し、いくつかの歯の位置は特定の顎顔面構造下に存在することができると結論付けられます。安定しています。したがって、歯顎および頭蓋顔面構造を測定および分析した後、ミスアライメントのメカニズムに従って、顎位置と歯の補正の理想的な位置を決定することができ、正しく、実現可能な修正計画を策定するようになる。
4. 矯正中および矯正後の歯骨および頭蓋顔面の形態および構造の変化を研究するために:X線の頭蓋測定は、矯正過程における歯列および頭蓋顔面の形態および構造の変化を評価するためにもしばしば使用され、矯正のメカニズムとメカニズムを理解する。安定性と修正後の再発.例えば、歯顎および頭蓋顔面構造上の外的なアンカレッジリップアーチ補正装置および顎顎口補正装置の効果と変化は、X線の頭蓋測定の使用後にのみ明らかにされ、明らかにされた。
5. 外科矯正歯科の診断と矯正の設計:X線の頭蓋を通して外科的矯正歯科を必要とする重度の頭蓋顔面変形患者の軟骨組織を分析し、変形の主なメカニズムを得て、手術の位置を決定し、方法および切除または切除される顎の数を決定する。同時に、X線セファログラムは、術後歯および顎の位置をシミュレートするために切断するために使用され、術後歯顎および頭蓋顔面関係の顔面地図を得る。これは十分な根拠を提供し、それによって診断および矯正レベルを改善する。
6. 下顎関数解析: X線頭蓋測定は、下顎運動、言語発音時の口蓋機能、および休憩隙の機能解析を研究するためにも使用できます。また、安静時位置から咬合部と顎位置までの下顎の移動軌道の機能的研究にも使用される。
チェックが必要な人:異常な頭蓋顔面の成長と顔の変形を持つ人々。
検査プロセス:
X線検査室に入り、検査装置や検査装置の前に座り、X線装置に向かい、写真を撮ります。
関連疾患:
膝蓋腱断裂、小児頭蓋顔面変形症候群、小児ダウン症、水頭症、切断された手足の再生、起足性思春期、下顎の引き込み、前部交叉、開閉、感電
関連する症状:
頭圧感覚、頭圧迫感、生え際の痛み、トランス、不足および寒さ、冷たく凝固、嚥下不良、頭蓋顔面変形
